Deutsch |
English
Home
Alle Aussteller
Kontakt
Sitemap
Druckansicht
Seite drucken
05. bis 07. Mrz 2010
Messezentrum Salzburg
Tracht & Country Classics
Int. Modefachmesse für Trachten- und Landhausbekleidung
auf dieser Homepage
im Messekatalog
Für
Aussteller
Für
Besucher
Für die
Presse
AuSsteller
Katalog
Akkreditierungsanfrage
Pressecenter
Aktuelle Pressemitteilung
Pressefotos
Ausstellerliste
Termine für die Presse
Facts & Figures
Lage & Anreise
Parkplätze
Presse Kontakt
News + Pressemitteilungen
Messenews
06.03.2010
>Tracht & Country Classics Frühjahr 2010<: Premiere für den „Fashion Walk & Talk“
05.03.2010
>Tracht & Country Classics Frühjahr 2010<: Junge Designer zeigen mächtig Potenzial
Aktuelle Pressemitteilungen
09.03.2010
SCHLUSSBERICHT: >Tracht & Country Classics Frühjahr 2010< in Salzburg: Fortsetzung der stabilen Aufwärtsentwicklung Trendteil: Die Harmonie der Gegensätze
Internationale Leitmesse für Trachten- und Landhausmode sowie alpinen Lifestyle +++
Ausstellermitteilung
19.02.2010
Trachten-Couture Seebacher, Halle 06 Stand 602
APA-OTS Newsmeldungen
SCHLUSSBERICHT: >Real Vienna 2010<
27.05.2010 13:40 Uhr
>Real Vienna< 2010 in der Messe Wien:
18.05.2010 15:18 Uhr
SCHLUSSBERICHT: >VIENNAFAIR< The International Contemporary Art Fair FOCUSED ON CEE 2010
10.05.2010 13:52 Uhr
>VIENNAFAIR The International Contemporary Art Fair FOCUSED ON CEE< vom 6. bis 9. Mai 2010
06.05.2010 13:45 Uhr
>Alles für den Gast Wien 2010<: Frühlingsauftakt für Gastronomie und Hotellerie
25.04.2010 15:15 Uhr
powered by
Sie sind hier:
Home
> Presse
Willkommen beim Pressedienst
Das Presseteam von Reed Exhibitions freut sich Sie mit Informationen zu versorgen.
Specials
Akkreditierungsanfrage:
Lassen Sie sich hier zur Messe akkreditieren
Alle Aussteller
Kontakt
Sitemap
Druckansicht
29. Juli 2010 20:29
Reed Messe Salzburg GmbH
Am Messezentrum 6, Postfach 285
A-5021 Salzburg
Tel: +43 (0)662 4477-0
Fax: +43 (0)662 4477-4809
www.messe.at
-
info@reedexpo.at
Impressum
|
Privacy Policy
|
Datenschutz
|
Copyright
Diese Website verwendet google-Analytics.
© 2005-2009, Reed Exhibitions -
www.reedexpo.com